微波组件内引线常见键合故障分析及预防措施

• 作者: 戴久宏
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微波组件 引线键合 失效分析 预防措施
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 微组装技术 SMT PCB
• 页码范围: 159-163
• 页数: 5页
• 分类号: TN605
• 字数: 5124字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2017.03.011

摘要

微波组件组装中,经常出现内引线键合系统的缺陷.一些缺陷在某种条件下可导致产品失效.研究了内引线键合的缺陷和失效问题,分辩其失效模式和失效机理,确定其最终的失效原因,提出了改进设计和制造工艺的建议.采取有效质量管理措施后,消除了故障隐患,提高了产品可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴久宏	中国电子科技集团公司第五十五研究所	3	2	1.0	1.0