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摘要:
随着电子技术的发展,电子设备组成的复杂化和智能化不断提高.IC芯片制造工艺的不断提高使得VLSI电路的集成密度增加,亦加大了电子设备故障测试的复杂性和难度.结合当前电子设备故障诊断的最新成果与发展动态,综述了故障诊断与检测的三种主流方法:基于解析模型的方法、基于信号处理的方法和基于知识的方法.总结了目前电子设备故障诊断技术的发展概况和趋势.
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文献信息
篇名 电子设备故障诊断技术综述
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 电子设备 故障诊断 解析模型 信号处理
年,卷(期) 2008,(5) 所属期刊栏目 新工艺新技术
研究方向 页码范围 294-298
页数 5页 分类号 TN05
字数 5710字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3474.2008.05.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐济仁 40 304 10.0 17.0
3 刘敬芝 3 34 2.0 3.0
6 牛纪海 11 146 6.0 11.0
7 江从俊 1 27 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
电子设备
故障诊断
解析模型
信号处理
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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