边沿速率导致的高速问题

• 作者: 吕霆 李宗华
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 高速电路 高速问题 反射 串扰 过冲 下冲
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 微组装·SMT·PCB
• 页码范围: 90-92,120
• 页数: 4页
• 分类号: TN41
• 字数: 2970字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.2010.02.007

摘要

随着IC制造工艺水平的提高,信号的上升沿越来越快,由此就会引发许多反射、串扰、过冲和下冲等信号不完整的问题.由于这些问题都是由IC芯片的边沿速率提升导致,因此统称它们为高速问题.分析了各种高速问题中反射、串扰、过冲和下冲等产生的原因机理,并总结出了在PCB设计过程中的解决方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕霆	中国电子科技集团公司第五十四研究所	4	50	4.0	4.0
2	李宗华		2	5	1.0	2.0