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基于多层板弯曲理论的芯片翘曲变形分析
基于多层板弯曲理论的芯片翘曲变形分析
作者:
付红志
王世
贾建援
陈轶龙
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
层合板
温度
翘曲变形
摘要:
将芯片简化为层合板,基于弹性力学的多层板弯曲理论,通过求解板弯曲微分方程,得到芯片在自由边界约束条件下的温度翘曲变形的解析表达式.该芯片翘曲变形表达式可以反映材料参数随温度的变化,为再流焊温度变化幅度较大的芯片翘曲分析提供了有效的快速计算方法.通过与有限元分析计算结果及实测结果的对比,表明理论计算结果基本符合实际情况,层合板简化模型近似程度可以满足工程预估分析的要求.
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文献信息
篇名
基于多层板弯曲理论的芯片翘曲变形分析
来源期刊
电子工艺技术
学科
工学
关键词
层合板
温度
翘曲变形
年,卷(期)
2012,(6)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
330-334
页数
分类号
TN6
字数
2520字
语种
中文
DOI
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作者信息
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贾建援
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陈轶龙
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节点文献
层合板
温度
翘曲变形
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第二研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-3474
CN:
14-1136/TN
开本:
大16开
出版地:
太原市115信箱
邮发代号:
22-52
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
总被引数(次)
14508
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