LED片式COB光源黑化失效分析

• 作者: 刘双喜 区燕杰 吴懿平 杨卓然 臧艳丽
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: LED失效 黑化 片式COB 荧光胶碳化 有限元
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 综 述
• 页码范围: 249-252
• 页数: 4页
• 分类号: TN31
• 字数: 3069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2015.05.001

摘要

提出了一种LED光源黑化失效检测分析流程，分析了LED片式COB光源黑化失效的形成原因。将黑化失效的芯片剥离面用扫描电镜（SEM）等检测仪器对发黑区域进行定位，借助能谱仪（EDS）对发黑区域进行组分分析，确定光源黑化是荧光胶局部碳化所致。有限元模拟分析和验证性实验进一步说明片式COB光源黑化的主要原因是苯基类荧光胶结构中苯环裂解。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴懿平	华中科技大学材料科学与工程学院	79	771	16.0	24.0
2	臧艳丽	华中科技大学材料科学与工程学院	2	3	1.0	1.0
3	刘双喜	华中科技大学材料科学与工程学院	3	3	1.0	1.0
5	区燕杰		3	17	2.0	3.0
6	杨卓然		5	36	3.0	5.0