国内半导体器件的可靠性筛选技术

• 作者: 丁继善
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 筛选项目 筛选条件 筛选淘汰率 筛选效果
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 器件可靠性
• 页码范围: 55-57
• 页数: 3页
• 分类号: TN3
• 字数: 3004字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.1999.03.012

摘要

回顾了80年代以来国内器件厂广泛应用的在高可靠器件发展过程中已发挥了重要作用的可靠性筛选技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁继善		2	0	0.0	0.0