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摘要:
用XRD测试仪、分光光度计、四探针等测试仪器,探讨了制备气氛、退火温度和退火环境对AZO薄膜光电性能及结构的影响.结果表明:氧气和氩气的体积流量比为2∶1时,薄膜透光率最高(95.33%);退火有利于薄膜结晶;低于400℃退火时,温度越高薄膜电阻越小,超过400℃后,真空中退火温度再升高电阻变化不大,而空气中退火温度再升高电阻反而变大.
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中频磁控溅射
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退火
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 磁控溅射法制备AZO薄膜的工艺研究
来源期刊 电子元件与材料 学科 物理学
关键词 无机非金属材料 AZO薄膜 磁控溅射法 制备气氛 退火温度
年,卷(期) 2005,(8) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 46-48
页数 3页 分类号 O484.4+2
字数 2174字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2005.08.016
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电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
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