栅结构对功率SiC MESFET器件性能的影响

• 作者: 李亮 李岚 王勇 蔡树军 默江辉
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: SiC MESFET 栅结构 输出功率 凹槽栅 介质埋栅
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 半导体器件
• 页码范围: 361-364
• 分类号: TN304.24
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2013.05.009

摘要

报道了对SiC MESFET器件多种纵向结构设计进行的研究和分析,设计了采用单凹槽栅结构、多凹槽栅结构和介质埋栅结构三种不同纵向结构器件,并对三种器件结构进行了仿真优化.对于大功率微波器件,击穿电压和微波性能是判定器件直流及微波性能的关键参数,比较了具有不同栅结构器件的栅漏击穿电压及其输出功率、增益和效率等微波参数.给出了具有介质埋栅结构的器件性能测试结果.分析表明,介质埋栅结构中凹槽和复合介质钝化层对靠近栅漏一侧的栅边缘峰值电场强度进行了调制,提高了栅漏击穿电压,增大了器件微波输出功率.最终测试结果表明,器件在S波段实现脉冲输出功率大于45 W,功率增益大于8.5 dB,效率大于40％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡树军		18	62	4.0	7.0
2	李亮		5	4	1.0	2.0
3	默江辉		6	8	2.0	2.0
4	李岚	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	16	2.0	4.0
5	王勇		2	0	0.0	0.0