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摘要:
设计了一种适用于SiGe BiCMOS工艺的低成本、高性能垂直结构PNP器件.基于仿真结果,比较了不同发射区和基区制作方法对器件特性的影响.在确定器件结构和制作工艺的基础上,进一步优化了器件特性.基于仿真得到的工艺条件所制作的PNP器件,其特性与仿真结果基本一致.最终优化的PNP器件的电流增益为38,击穿电压大于7V,特征频率为10 GHz.该PNP晶体管改善了横向寄生硅基区PNP晶体管的性能,减少了垂直SiGe基区PNP晶体管工艺的复杂性,采用成本低廉的简单工艺实现了优良的器件性能.
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文献信息
篇名 一种SiGe BiCMOS高速PNP器件的设计
来源期刊 微电子学 学科 工学
关键词 PNP晶体管 SiGe BiCMOS 电流增益 特征频率
年,卷(期) 2013,(1) 所属期刊栏目 半导体器件与工艺
研究方向 页码范围 99-102,106
页数 5页 分类号 TN32|TN433
字数 3451字 语种 中文
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研究主题发展历程
节点文献
PNP晶体管
SiGe BiCMOS
电流增益
特征频率
研究起点
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相关学者/机构
期刊影响力
微电子学
双月刊
1004-3365
50-1090/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号24所
1971
chi
出版文献量(篇)
3955
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