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摘要:
在平片蓝宝石衬底上,通过引入AlN缓冲层,优化成核层与粗糙层的生长条件,生长出了表面平整的GaN薄膜,晶体质量得到显著提升.通过引入AlN缓冲层,将X射线衍射(XRD)下样品(002)面的半高宽(FWHM)由232"降低至148";通过减薄成核层厚度、提升粗糙层生长压力,将样品(102)面和(100)面的FWHM分别由243"和283"降低至169"和221".研究了不同成核层和粗糙层的生长参数对GaN薄膜表面形貌的影响,随着(102)面和(100)面FWHM的降低,表面平整度亦得到改善,粗糙度由约3.8 nm下降到约1.6 nm.利用优化后的底层条件生长了高质量GaN薄膜,在3.5 A/mm2电流密度下,与参考样品相比,制备出的LED样品的光输出功率由863 mW提升至942 mW,提升了约9℃.
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文献信息
篇名 利用平片蓝宝石衬底制备高功率垂直结构LED
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 GaN 平片蓝宝石衬底 AlN 成核层 粗糙层 垂直结构LED
年,卷(期) 2019,(8) 所属期刊栏目 半导体器件
研究方向 页码范围 617-622
页数 6页 分类号 TN312.8|TN304.23
字数 语种 中文
DOI 10.13290/j.cnki.bdtjs.2019.08.008
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1 杜伟华 1 1 1.0 1.0
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