半导体技术期刊
出版文献量(篇)
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半导体技术

Semiconductor Technology

CAJSTAJSACSTPCD

影响因子 0.3579
《半导体技术》是由信息产业部主管,中国半导体行业协会、半导体专业情报网、中电科技集团公司十三所主办,业内权威的国家一级刊物之一。1976年创刊,它以严谨风格,权威著述,在业内深孚众望,享誉中外,对我国半导体事业的发展发挥了积极作用。“向读者提供更好资讯,为客户开拓更大市场”,是《半导体技术》的追求,本刊一如既往地坚持客户至上,服务第一,竭诚向读者提供多元化的信息。 《半导体技术》是中文核心... 更多
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
期刊荣誉:
中国学术期刊光盘版《CAJ-CD》执行优秀期刊奖(03)  中国科技论文统计用刊  中文核心期刊 
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
出版周期:
月刊
邮编:
050002
地址:
石家庄179信箱46分箱
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5044
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  • 作者: 张宇恒 皮孝东
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  401-410
    摘要: 硅量子点具有新颖的光电性能,有望在光电、光伏和生物标记等领域发挥重要作用.为了使硅量子点表现出优异而稳定的光电性能,能够有效地被应用,通常需要对硅量子点的表面进行改性.针对表面起初被氢或氯钝...
  • 作者: 史凌峰 王兴君
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  411-416
    摘要: 针对带隙参考电压基准温漂问题设计了一款高阶补偿电路,并采用0.5 μm BCD工艺进行了验证.电路采用零温度系数(TC)电流实现一阶补偿,同时采用具有正温度系数(PTC)的双极型晶体管(BJ...
  • 作者: 付兴昌 宋建博 崔玉兴 张力江 方家兴 程知群 高学邦
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  417-420,454
    摘要: 基于标准的SiC衬底AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)工艺研制了毫米波段单片微波集成电路(MMIC)芯片.首先采用插入隔离层的方式得到复合沟道AlxGa1-xN/AlN/Aly...
  • 作者: 丁理想 卢东旭 田国平 耿双利 谷江 赵永瑞 高博
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  421-425
    摘要: 针对双模卫星导航接收系统对集成度、功耗和面积的需求,研究了频率综合器的电路结构和频率规划,分析了频率综合器环路的参数设计,实现了片上集成环路滤波器,版图采用MIM和MOS电容堆叠的方式节省了...
  • 作者: 卢东旭 吴洪江 田国平 赵永瑞
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  426-430
    摘要: 针对当前射频系统中电源管理芯片在宽温度范围下对带隙基准稳定性的较高要求,提出了一种新型互补带隙基准电路结构,通过将带隙基准与MOS弱反型区基准的温度系数曲率互补叠加,实现了极宽温度范围内带隙...
  • 作者: 付兴昌 吕元杰 崔玉兴 李保第
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  431-435,454
    摘要: 在SiC衬底上制备了栅长为110 nm、漏源间距为2μm的W波段AlGaN/GaN高电子迁移率场效应晶体管(HEMT),分析了SiN钝化对器件直流和射频特性的影响.研究发现:100 nm S...
  • 作者: 何彦刚 刘玉岭 岳红维 胡轶
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  436-440,472
    摘要: 研究了精抛液中各组分对Cu/Ta去除速率的影响.在分别考察磨料质量分数、Ⅱ型螯合剂、活性剂和双氧水等各组分对Cu/Ta去除速率的影响后,研发了磨料质量分数为2%,Ⅱ型螯合剂体积分数为0.35...
  • 作者: 周涛 夏婷婷 张鹏 陆晓东
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  441-447,477
    摘要: 利用Silvaco-TCAD半导体器件仿真软件对n型插指背接触(IBC)晶硅太阳电池衬底参数进行了优化,全面系统地分析了晶硅衬底厚度、电阻率、少子寿命对IBC太阳电池量子效率、短路电流、开路...
  • 作者: 孙玉润 张瑞英 张震 戚永乐 朱健 王岩岩 王庶民 董建荣 赵勇明
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  448-454
    摘要: 使用光学显微镜、原子力显微镜和微区喇曼光谱对在纳球光刻图案化GaAs衬底的孔洞区进行金属有机化学气相沉积(MOCVD)进而对InP成核层进行了研究.实验结果表明,该局域表面InP的成核层生长...
  • 作者: 何胜宗 刘丽媛 张蓬鹤 林道谭 陈选龙
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  455-459,477
    摘要: 失效分析中有许多类型的封装级失效.由于封装材料限制或者无损检测要求,无法从外观直接观察到失效点,需要借助于设备进行失效定位才能快速、准确地进行分析.总结了集成电路封装级失效的几种常见失效机理...
  • 作者: 厉志强 董毅敏
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  460-463
    摘要: 基于提升GaAs低噪声放大器(LNA)的抗静电(ESD)能力的需求,且实现器件小型化轻量化,设计了一种S波段GaAs低噪声放大器的ESD防护电路,该电路利用1/4波长线的微波特性,通过1/4...
  • 作者: 周晓羽 杨建国 林殷茵 薛晓勇
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  464-467
    摘要: 对CuxSiyO结构的阻变存储器(RRAM)进行了总剂量(TID)以及单粒子辐照(SEE)实验.总剂量实验中,1T1R样品分别接受总剂量为1,2和3 kGy (SiO2)的60Co γ射线辐...
  • 作者: 刘大鹏 刘楠 张辉 祝伟明
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  468-472
    摘要: 随着MOS器件特征尺寸的缩小和栅氧化层厚度的减薄,栅氧损伤成为MOS集成电路在实际应用中的主要失效模式之一.闩锁是CMOS集成电路结构所固有的寄生效应,寄生的可控硅结构一旦被特定条件触发,会...
  • 作者: 尹顺政 张岩 杨红伟 齐利芳
    刊名: 半导体技术
    发表期刊: 2015年6期
    页码:  473-477
    摘要: 利用Keithley 2400源表、AV6381可编程光衰减器、AV 38124 1 550 nm单模半导体激光器和TZ-608B型光电屏蔽探针台搭建雪崩光电二极管芯片自动测试系统.在Lab...

半导体技术基本信息

刊名 半导体技术 主编 赵小宁
曾用名
主办单位 中国电子科技集团公司第十三研究所  主管单位 中华人民共和国工业和信息化部
出版周期 月刊 语种
chi
ISSN 1003-353X CN 13-1109/TN
邮编 050002 电子邮箱 bdtj1339@163.com
电话 0311-87091339 网址
地址 石家庄179信箱46分箱

半导体技术评价信息

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2. 中国科技论文统计用刊
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