X波段单片集成低噪声接收子系统

• 作者: 彭龙新 林金庭 魏同立
• 来源期刊: 固体电子学研究与进展
• 学科: 工学
• 关键词: 微波单片 低噪声子系统 采样检波 开关衰减 膺配高电子迁移率晶体管
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 射频器件与电路
• 页码范围: 141-145
• 页数: 5页
• 分类号: TN43
• 字数: 2163字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3819.2002.02.003

摘要

报道一种新型X波段0.25 μm PHEMT全单片集成低噪声子系统.该子系统由开关衰减电路、采样检波电路和低噪声放大器三部分组成.开关插入损耗仅0.5 dB,放大器噪声系数小于1.5 dB.当开关控制电压为-2 V,输入电平＜-7 dBm时,此系统相当于一个低噪声放大器.在8.5～10.5 GHz频率内,整个系统增益大于24 dB,噪声系数小于2.0 dB,输入输出VSWR＜1.5;但当输入电平＞-7 dBm时,采样检波电路开始工作,打开主放大器前的开关衰减器,限制输入功率进入LNA.输入功率越大,反射越大.在开关控制电压为+2 V时,无论输入功率多大,开关关闭通道.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林金庭		30	238	10.0	14.0
2	魏同立	东南大学微电子中心	87	942	17.0	26.0
3	彭龙新		21	143	7.0	11.0