VLSI电路可测性设计技术及其应用综述

• 作者: 成立 王振宇 祝俊 高平
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: VLSI 可测试性设计 内建自测试 自动测试设备 应用前景
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 趋势与展望
• 页码范围: 20-24,34
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 4919字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2004.05.006

摘要

综述了超大规模集成电路的几种主要的可测试性设计技术,如扫描路径法、内建自测试法和边界扫描法等,并分析比较了这几种设计技术各自的特点及其应用方法和策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	成立	江苏大学电气与信息工程学院	168	1567	21.0	32.0
2	王振宇	江苏大学电气与信息工程学院	81	628	15.0	21.0
3	高平	江苏大学电气与信息工程学院	26	277	9.0	16.0
4	祝俊	江苏大学电气与信息工程学院	26	279	9.0	16.0