高密度陶瓷倒装焊封装可靠性试验开路后的失效定位

• 作者: 张崤君 李含 郑宏宇
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 倒装焊器件 失效分析 X射线 超声扫描显微镜(SAM) 扫描电子显微镜和X射线能谱仪(SEM&EDS)
• 年，卷（期）: 2017,（9）
• 所属期刊栏目: 可靠性
• 页码范围: 711-716
• 页数: 6页
• 分类号: TN306
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2017.09.012

摘要

陶瓷材料具有优良的综合特性,被广泛应用于高可靠微电子封装.陶瓷倒装焊封装的特殊结构使得对其进行失效分析相较其他传统封装形式更为困难.针对一款在可靠性试验中发生开路的高密度陶瓷倒装焊封装器件,制定了一套从非破坏性到破坏性的试验方案对其进行分析.通过时域反射计(TDR)测试排除了基板内部失效的可能性,通过X射线(X-ray)检测、超声扫描显微镜(SAM)和光学显微分析初步断定失效位置,并最终通过扫描电子显微镜和X射线能谱仪实现了对该器件的准确的失效定位,确定失效位置为基板端镀Ni层.该失效分析方法对其他陶瓷倒装焊封装的失效检测及分析有一定的借鉴意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑宏宇		7	130	3.0	7.0
2	李含	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	3	1.0	1.0
3	张崤君	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	3	1.0	1.0