SRAM型FPGA中SEM IP核的验证与自动注错方法

• 作者: 张皓 裴玉奎
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单粒子翻转(SEU)效应 静态随机存储器(SRAM) 现场可编程门阵列(FPGA) 软错误缓解(SEM)控制器IP核 自动注错
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 半导体检测与设备
• 页码范围: 223-228,240
• 页数: 7页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2017.03.013

摘要

星载设备长时间工作在空间环境中,宇宙中的带电粒子会造成器件功能异常,产生存储器软错误,严重时会损坏硬件电路.为模拟辐照环境对器件的影响,利用Xilinx公司的软错误缓解(SEM)控制器IP核,搭建了基于Xilinx Kintex-7的验证与测试平台,完成对SEM IP核的功能验证.为提高测试效率,设计了基于上述平台的自动注错方法.经过验证,该方法能够达到预期的帧地址覆盖率.实验结果表明,SEM IP核具备软错误注入与缓解功能,自动注错方法有利于此IP核的实际应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张皓	清华大学电子工程系	9	30	2.0	5.0
2	裴玉奎	清华大学宇航中心	19	26	2.0	4.0