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摘要:
航天、武器装备产品中PCB焊盘镀层与元器件镀层呈多样化趋势,带来了不同镀层与Sn63Pb37焊料匹配性问题.从微观组织角度分析了常用元器件镀层、PCB焊盘镀层与Sn63Pb37焊料的焊接匹配性.结果表明:Ag镀层器件在再流焊过程中,因界面IMC Ag3Sn的生长和基体镀层消耗较快,需严格控制焊接温度及时间,且应使用Sn-Pb-Ag焊料焊接;薄Au镀层元器件在再流焊后,界面处未形成AuSn4化合物,"金脆"现象应在焊点时效过程中体现;Ni/Sn-Pb、Cu/Sn镀层元器件在PCB的Cu镀Sn-Pb、Cu镀Ni/Au焊盘上与Sn63Pb37匹配性良好;Sn63Pb37焊膏与无铅BGA混装焊接时,两种焊料可充分混合,形成焊点具有良好的可靠性.
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文献信息
篇名 元器件及焊盘镀层与Sn63Pb37焊料的匹配性分析
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 匹配性 元器件镀层 PCB焊盘镀层 可靠性
年,卷(期) 2020,(6) 所属期刊栏目 微组装技术 SMT PCB
研究方向 页码范围 342-345,349
页数 5页 分类号 TN605
字数 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2020.06.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张志杰 7 0 0.0 0.0
2 李青 1 0 0.0 0.0
3 周强 1 0 0.0 0.0
4 洪元 1 0 0.0 0.0
5 潘兴旺 1 0 0.0 0.0
6 刘大勇 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
匹配性
元器件镀层
PCB焊盘镀层
可靠性
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
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