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元器件及焊盘镀层与Sn63Pb37焊料的匹配性分析
元器件及焊盘镀层与Sn63Pb37焊料的匹配性分析
作者:
刘大勇
周强
张志杰
李青
洪元
潘兴旺
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
匹配性
元器件镀层
PCB焊盘镀层
可靠性
摘要:
航天、武器装备产品中PCB焊盘镀层与元器件镀层呈多样化趋势,带来了不同镀层与Sn63Pb37焊料匹配性问题.从微观组织角度分析了常用元器件镀层、PCB焊盘镀层与Sn63Pb37焊料的焊接匹配性.结果表明:Ag镀层器件在再流焊过程中,因界面IMC Ag3Sn的生长和基体镀层消耗较快,需严格控制焊接温度及时间,且应使用Sn-Pb-Ag焊料焊接;薄Au镀层元器件在再流焊后,界面处未形成AuSn4化合物,"金脆"现象应在焊点时效过程中体现;Ni/Sn-Pb、Cu/Sn镀层元器件在PCB的Cu镀Sn-Pb、Cu镀Ni/Au焊盘上与Sn63Pb37匹配性良好;Sn63Pb37焊膏与无铅BGA混装焊接时,两种焊料可充分混合,形成焊点具有良好的可靠性.
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文献信息
篇名
元器件及焊盘镀层与Sn63Pb37焊料的匹配性分析
来源期刊
电子工艺技术
学科
工学
关键词
匹配性
元器件镀层
PCB焊盘镀层
可靠性
年,卷(期)
2020,(6)
所属期刊栏目
微组装技术 SMT PCB
研究方向
页码范围
342-345,349
页数
5页
分类号
TN605
字数
语种
中文
DOI
10.14176/j.issn.1001-3474.2020.06.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
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张志杰
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研究主题发展历程
节点文献
匹配性
元器件镀层
PCB焊盘镀层
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第二研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-3474
CN:
14-1136/TN
开本:
大16开
出版地:
太原市115信箱
邮发代号:
22-52
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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