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摘要:
作为第三代半导体材料的典型代表,氮化镓具有比硅和砷化镓更为优越的性能,其制成的器件可用共晶焊接的方式进行组装.结合影响共晶焊的工艺因素以及试验芯片本身的特质,选取了不同参数进行试验,得到了适用于硅衬底、底面镀金的氮化镓芯片的较好共晶焊工艺参数,证明氮化镓器件的共晶焊接技术可行.
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文献信息
篇名 氮化镓器件的共晶焊接技术
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 氮化镓器件 共晶 超声扫描
年,卷(期) 2017,(3) 所属期刊栏目 微组装技术 SMT PCB
研究方向 页码范围 138-140,158
页数 4页 分类号 TN605
字数 2239字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2017.03.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘美玥 3 3 1.0 1.0
2 姚友谊 4 3 1.0 1.0
3 谢飞 2 30 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
氮化镓器件
共晶
超声扫描
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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