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摘要:
铜柱凸块技术用于实现集成电路封装的芯片基板互联,具有优越的电性能、热性能和可靠性,并可满足RoHS要求.随着电子产品对小型化和轻量化的要求越来越高,铜柱凸块将逐渐取代锡铅凸块技术,实现更高密度的芯片互连,成为先进封装的主流技术.
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互连
专利
专利分析
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关键词热度
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文献信息
篇名 基于先进封装的铜柱凸块技术
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 先进封装 铜柱凸块 焊料凸块
年,卷(期) 2017,(2) 所属期刊栏目 微组装技术 SMT PCB
研究方向 页码范围 99-101
页数 3页 分类号 TN605
字数 2301字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2017.02.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张彩云 中国电子科技集团公司第二研究所 12 97 4.0 9.0
2 王学军 中国电子科技集团公司第二研究所 13 64 5.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
先进封装
铜柱凸块
焊料凸块
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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