基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
超声倒装是近年来芯片封装领域中快速发展的一种倒装技术,具有连接强度高、接触电阻低、可靠性高、低温下短时完成和成本低的优势,特别适合较少凸点的RFID芯片封装。在镀Ni/Au铜基板上进行了RFID芯片超声倒装焊接实验,金凸点与镀Ni/Au铜基板之间实现了冶金结合,获得了良好的力学与电气性能,满足射频要求。
推荐文章
倒装芯片封装结构中SnAgCu焊点热疲劳寿命预测方法研究
热疲劳
寿命预测
倒装芯片焊点
无铅化
国内RFID封装技术的现状分析及研究
RFID
封装
工艺
倒装芯片
避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
球栅阵列封装
裂纹
芯片
有限单元分析
倒装片
断裂力学
设计工艺
倒装芯片焊点可靠性的有限元模拟法综述
倒装芯片
焊点可靠性
有限元
热循环
应力/应变
疲劳寿命模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 RFID芯片超声倒装封装技术研究
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 射频识别 芯片封装 超声倒装 冶金结合
年,卷(期) 2011,(6) 所属期刊栏目 微组装SMT PCB
研究方向 页码范围 326-329
页数 分类号 TN60
字数 2599字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3474.2011.06.004
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (15)
共引文献  (19)
参考文献  (5)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1995(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
1998(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
1999(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2001(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2002(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2003(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2004(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2006(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2007(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2011(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2015(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
射频识别
芯片封装
超声倒装
冶金结合
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
论文1v1指导