基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
利用共晶炉,采用Au80Sn20共晶焊片对GaAs微波芯片与MoCu载体进行了共晶焊接.利用推拉力测试仪、X射线衍射仪对焊接样品的焊接强度和孔洞率进行了测试.采用正交试验法分析了焊料尺寸、焊接压力及温度曲线等工艺参数对共晶焊接的影响.研究发现:各因素影响主次顺序为焊接压力、焊接曲线、焊片大小;当焊料尺寸为70%,焊接压力为0.001 N/mm2,选用优化的温度曲线时,共晶焊接效果最优,孔洞率小于1%,剪切强度大于50 N,满足GJB 548B的要求.
推荐文章
薄膜基板芯片共晶焊技术研究
共晶焊
空洞
剪切强度
接触电阻
基于Au基共晶焊料的焊接技术及其应用
Au/Sn焊料
Au/Ge焊料
空洞率
微波GaAs功率芯片的低空洞率真空焊接技术研究
功率芯片
共晶焊接
空洞率
真空
微波裸芯片的测试技术
裸芯片
微波单片集成电路
夹具
探针
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 微波芯片共晶焊接技术研究
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 微波芯片 Au80Sn20焊片 共晶焊接
年,卷(期) 2018,(3) 所属期刊栏目 微组装技术SMT PCB
研究方向 页码范围 157-159,167
页数 4页 分类号 TN45
字数 1859字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2018.03.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈帅 中国电子科技集团公司第二十研究所 12 18 4.0 4.0
2 赵志平 中国电子科技集团公司第二十研究所 5 4 1.0 2.0
3 张飞 中国电子科技集团公司第二十研究所 8 21 4.0 4.0
4 黄建国 中国电子科技集团公司第二十研究所 4 7 2.0 2.0
5 赵文忠 中国电子科技集团公司第二十研究所 4 4 1.0 2.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (34)
共引文献  (30)
参考文献  (7)
节点文献
引证文献  (4)
同被引文献  (9)
二级引证文献  (0)
1994(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1996(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
1999(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2000(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2001(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2003(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2004(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2005(2)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(2)
2006(4)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(4)
2007(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2008(6)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(4)
2009(2)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(1)
2010(3)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(3)
2011(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2012(5)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(4)
2013(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2014(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2015(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2016(1)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(1)
2017(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2018(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2019(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2020(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
微波芯片
Au80Sn20焊片
共晶焊接
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
论文1v1指导