LDMOS功率器件可靠性筛选技术研究

• 作者: 张艳杰 童亮 茹志芹
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: LDMOS 失效模式 失效机理 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（4）
• 所属期刊栏目: 微组装技术 SMT PCB
• 页码范围: 208-211
• 页数: 4页
• 分类号: TN386
• 字数: 2719字
• 语种: 中文
• DOI: 10.14176/j.issn.1001-3474.2017.04.007

摘要

为了获得良好的筛选效果,剔除早期失效产品,通过对LDMOS功率器件的失效情况进行调研分析,设计了LDMOS功率器件的筛选方案.主要研究了LDMOS功率器件失效模式和失效机理之间的对应关系、失效机理与试验项目之间的关系.选取可覆盖全部失效模式的试验项目,并根据各试验项目的特性和作用对其进行排序,形成合理有效的LDMOS功率器件可靠性筛选方案.选用100只某型号LDMOS功率器件按照此方案进行筛选,并对失效产品进行失效分析,验证了方案的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	茹志芹	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	7	2.0	2.0
2	童亮	中国电子科技集团公司第十三研究所	2	5	1.0	2.0
3	张艳杰	中国电子科技集团公司第十三研究所	1	1	1.0	1.0