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摘要:
塑封元器件在存储期间,由于其自身的材料和结构问题,会吸收周围空气中的水分.在进行焊接时,温度的急剧上升使器件内部受到湿应力和蒸汽压力的作用,从而产生内部分层或“爆米花”效应.因此长期存放的塑封器件在焊前要进行烘烤以驱除内部的潮气.针对实际的塑封钽电容器件的去潮工艺进行了分析,对常压和真空条件下去潮的工艺进行了对比.提出了高效的真空去潮工艺方法.
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文献信息
篇名 塑封器件去潮工艺研究
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 塑封器件 钽电容器 真空去潮
年,卷(期) 2019,(5) 所属期刊栏目 微组装技术 SMT PCB
研究方向 页码范围 291-293,310
页数 4页 分类号 TN605
字数 3306字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2019.05.012
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 成钢 18 81 5.0 8.0
2 丁旭 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
塑封器件
钽电容器
真空去潮
研究起点
研究来源
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相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
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10
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