大规模集成电路可测性设计及其应用策略

• 作者: 刘峰
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 可测性设计 内建自测试 边界扫描
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 254-258,263
• 页数: 6页
• 分类号: TN40
• 字数: 5268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.2005.05.002

摘要

随着集成电路的规模不断增大,集成电路的可测性设计正变得越来越重要.综述了可测性设计方案扫描通路法、内建自测试法和边界扫描法,并分析比较了这几种设计方案各自的特点及应用策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘峰		20	39	4.0	5.0