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摘要:
讨论TSnAgCu305焊料和cu焊盘在不同回流时间下形成的金属间化合物的厚度和形貌,以及焊点内部的组织结构.通过剪切试验测得不同回流时间下得到的焊点强度.试验结果表明:回流时间较短时,IMC层的厚度随着时间的增大快速增长,随着时间推移最后IMC的厚度在5 μm左右趋于稳定.焊点内部的组织形貌随着时间变化由等轴晶到枝状晶,最后变为柱状晶.回流时间在60 s时焊点的抗剪切性能最佳.
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文献信息
篇名 回流时间对焊点质量的影响
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 SnAgCu305 回流时间 金属间化合物 组织形貌 剪切强度
年,卷(期) 2011,(3) 所属期刊栏目 微组装 SMT PCB
研究方向 页码范围 136-137,159
页数 分类号 TN60
字数 1992字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3474.2011.03.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴金昌 9 24 3.0 4.0
2 王会芬 5 18 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
SnAgCu305
回流时间
金属间化合物
组织形貌
剪切强度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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