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摘要:
报告了0.18 μm高速N型锗硅异质结双极晶体管(SiGe HBT)的器件结构和制作工艺.分析了SiGe HBT器件的直流和射频特性,其截止频率为110 GHz,击穿电压为1.8V,电流增益为270.研究了集电区掺杂及锗硅碳外延基区的厚度与掺杂工艺条件对器件特性的影响,并给出最优化的工艺条件.
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关键词云
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文献信息
篇名 高速NPN锗硅异质结双极晶体管的设计与制作
来源期刊 固体电子学研究与进展 学科 工学
关键词 高速 锗硅异质结双极晶体管 截止频率
年,卷(期) 2012,(5) 所属期刊栏目 射频与微波
研究方向 页码范围 467-471
页数 分类号 TN433|TN322|TM743
字数 3421字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-3819.2012.05.012
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研究主题发展历程
节点文献
高速
锗硅异质结双极晶体管
截止频率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
固体电子学研究与进展
双月刊
1000-3819
32-1110/TN
大16开
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东路524号)
1981
chi
出版文献量(篇)
2483
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