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多芯片组件倒装焊焊点三维形态预测研究
多芯片组件倒装焊焊点三维形态预测研究
作者:
吴兆华
周德俭
潘开林
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
多芯片组件
倒装焊
焊点形态
建模
回归分析
摘要:
基于最小能量原理建立了多芯片组件(MCM)倒装焊焊点成形预测模型,对其三维焊点形态进行了有效预测.通过对预测结果进行数据分析与处理,建立了钎料体积和预定间隙与焊点高度之间的预测关系表达式.
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应力
采用新型多层基板的多芯片组件封装技术
多芯片组件
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内容分析
文献信息
引文网络
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期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
多芯片组件倒装焊焊点三维形态预测研究
来源期刊
电子工艺技术
学科
工学
关键词
多芯片组件
倒装焊
焊点形态
建模
回归分析
年,卷(期)
1999,(2)
所属期刊栏目
SMT/PCB
研究方向
页码范围
45-48
页数
4页
分类号
TG4|TN6
字数
3086字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-3474.1999.02.001
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
潘开林
33
302
9.0
16.0
2
周德俭
103
567
13.0
18.0
3
吴兆华
70
475
12.0
17.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
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引文网络
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(1)
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(0)
二级引证文献
(0)
1997(2)
参考文献(2)
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1998(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
1999(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2006(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
多芯片组件
倒装焊
焊点形态
建模
回归分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第二研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-3474
CN:
14-1136/TN
开本:
大16开
出版地:
太原市115信箱
邮发代号:
22-52
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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