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BGA的返修工艺与技术
BGA的返修工艺与技术
作者:
胡强
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
BGA
返修
温度曲线
变形
开路
短路
摘要:
随着BGA封装的发展和广泛应用,其将成为高密度、高性能、多功能封装的最佳选择.由于BGA特殊的封装形式,焊点位于封装体底部,需要专门的返修设备进行返修.以PBGA和CBGA为例,结合实际返修过程中的经验,对返修过程中应注意的问题进行分析,以提高BGA的返修质量.
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文献信息
篇名
BGA的返修工艺与技术
来源期刊
电子工艺技术
学科
工学
关键词
BGA
返修
温度曲线
变形
开路
短路
年,卷(期)
2006,(1)
所属期刊栏目
SMT/PCB
研究方向
页码范围
19-21,25
页数
4页
分类号
TN6
字数
4070字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-3474.2006.01.006
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
胡强
3
39
3.0
3.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
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引文网络
引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
BGA
返修
温度曲线
变形
开路
短路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第二研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1001-3474
CN:
14-1136/TN
开本:
大16开
出版地:
太原市115信箱
邮发代号:
22-52
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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