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摘要:
建立了环栅结构的CMOS/SOI器件的SPICE模型,可以对抗辐照设计中环栅结构的CMOS/SOI器件计算其等效宽长比,将环栅器件转换为等效宽度和长度的条栅器件;以及对体接触电阻等其他受影响的SPICE模型参数做出调整,使其电学特性模拟达到最准确精度.模拟数据和试验数据具有很好的一致性,证明所建立的模型具有较高的精度.
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基于电场分布特性的环形栅器件SPICE模型研究
环形栅
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击穿电压
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SOI
槽栅MOS器件
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 环栅结构CMOS/SOI器件SPICE模型研究
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 环栅 绝缘体上硅 SPICE模型 宽长比 体接触
年,卷(期) 2010,(6) 所属期刊栏目 器件制造与应用
研究方向 页码范围 542-545
页数 分类号 TN386.1|TN402
字数 2851字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.06.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 贺威 深圳大学电子科学与技术学院 23 56 4.0 6.0
2 张正选 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 20 56 4.0 6.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
环栅
绝缘体上硅
SPICE模型
宽长比
体接触
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
5044
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38
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