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摘要:
采用磁控溅射法在氧化铝陶瓷基板上制备了Cu薄膜,利用台阶测试仪、XRD以及半导体测试仪对薄膜的厚度、结构及电学特性进行了表征及测试。结果表明,当溅射电流为0.6 A,氩气流量为100 cm3/min时,制备出的薄膜结晶特性良好,具有优异的电学特性。通过进一步深入研究,揭示了工艺参数影响薄膜性能的物理机理。
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关键词云
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文献信息
篇名 薄膜电路制备中磁控溅射工艺对样品性能影响的研究
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 薄膜 磁控溅射 溅射电流 氩气流量
年,卷(期) 2015,(5) 所属期刊栏目 新工艺 新技术
研究方向 页码范围 299-303
页数 5页 分类号 TN45
字数 3820字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2015.04.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 邱颖霞 中国电子科技集团公司第三十八研究所 17 94 5.0 9.0
2 宋夏 中国电子科技集团公司第三十八研究所 14 32 4.0 4.0
3 陈帅 中国电子科技集团公司第三十八研究所 12 18 4.0 4.0
4 魏晓旻 中国电子科技集团公司第三十八研究所 5 21 3.0 4.0
5 郭育华 中国电子科技集团公司第三十八研究所 7 14 3.0 3.0
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电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
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