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摘要:
引入了一种采用升华外延法在偏向4H-SiC衬底上生长3C-SiC的方法,提出了3C-SiC薄膜的生长模型,通过控制实现原位立方相3C成核,再沿台阶流方向侧向扩展3C-SiC单晶区域.连续多批次生长1 mm厚高质量3C-SiC样品,证明了该生长工艺的稳定性及重复性,XRD摇摆曲线半高宽(FWHM)34″~48″,表明结晶质量非常好.低温光致发光谱同样显示高结晶质量,残余N浓度(1~2)×1016 cm-3.这种3C-SiC材料的生长理念可以用于均匀3C-SiC薄膜材料制备或者为3C-SiC体块单晶生长提供籽晶.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 利用侧向生长机制在偏向4H-SiC衬底上生长3C-SiC
来源期刊 电子工艺技术 学科 工学
关键词 3C-SiC薄膜 侧向生长 偏向4H-SiC衬底
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目 新工艺 新技术
研究方向 页码范围 41-44
页数 4页 分类号 TN304
字数 2116字 语种 中文
DOI 10.14176/j.issn.1001-3474.2017.01.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李斌 中国电子科技集团公司第二研究所 89 251 10.0 12.0
2 魏汝省 中国电子科技集团公司第二研究所 6 5 2.0 2.0
3 田牧 中国电子科技集团公司第二研究所 3 11 2.0 3.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
3C-SiC薄膜
侧向生长
偏向4H-SiC衬底
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工艺技术
双月刊
1001-3474
14-1136/TN
大16开
太原市115信箱
22-52
1980
chi
出版文献量(篇)
2306
总下载数(次)
10
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